David Méndez Martín
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David Méndez se licenció en Química en la Universidad de Cádiz donde comenzó su formación post-grado centrado en Microscopía Electrónica de Barrido y Transmisión de materiales semiconductores. Tras un breve paso de un año por una empresa privada del sector de la alimentación, volvió a la I+D+i en la Escuela de Ingenieros de Caminos, Canales y Puertos de Santander como Técnico Especialista en Microscopía Electrónica de Barrido con un doble enfoque: investigación básica dando servicio a diversos grupos de la Universidad de Cantabria y control de calidad y análisis de fallo para compañías del tejido empresarial regional. Todo ello suma una experiencia de más de 8 años en microscopía electrónica trabajando en muy diversas técnicas y contribuyendo con ello a más de 10 publicaciones en revistas internacionales, una patente nacional y diversas asistencias a congresos nacionales e internacionales. Desde abril de 2011 está a cargo del servicio de microscopía electrónica de BIONAND, como técnico especialista.
Algunas publicaciones de interés
D. Ferreño, J.A. Álvarez, E. Ruiz, D. Méndez, L. Rodríguez, D. Hernández. "Failure analysis of a Pelton turbine manufactured in soft martensitic stainless steel casting". Engineering Failure Analysis, 18 (2011) 256-270.
D. Méndez, M. Albrecht, E. Monroy, D. Jalabert, H.P. Strunk and R. García. "Effect of growing temperature on AlGaInN layers: a TEM analysis". Physica Status Solidi (c), 6 (2006) 1400-1403.
D. Méndez, A. Aouni, F.M. Morales, F.J. Pacheco, D. Araújo, E. Bustarret, G. Ferro and Y. Monteil. "Defect morphology and strain of CVD grown 3C-SiC layers: effect of the carbonization process". Physica Status Solidi (a), 202 (2005) 561-565.
